2025年2月20日

当社は、半導体テスター向けにターンオン時間を当社既存製品[注1]より高速にしたS-VSON4T[注2]パッケージのフォトリレー「TLP3414S」と「TLP3431S」を製品化しました。新製品の阻止電圧定格とオン電流定格は、TLP3414Sが40V/250mA、TLP3431Sが20V/450mAです。本日から出荷を開始します。

新製品は、入力側の赤外発光ダイオードの光出力向上と、受光素子 (フォトダイオードアレイ) の最適化設計により、光結合効率を高めました。これにより、ターンオン時間を最大150μsに短縮し、高速化を実現しました。TLP3414Sは当社既存製品TLP3414と比べて最大ターンオン時間を約50％、TLP3431Sは当社既存製品TLP3431と比べて約62％短縮しています。

また、出力オン時の信号減衰に影響するオン抵抗 (TLP3414S: 最大値3Ω、TLP3431S: 最大値1.2Ω) と、出力オフ時の高周波信号漏れに影響する端子間容量 (出力側) (TLP3414S、TLP3431Sともに標準値6.5pF) は当社既存製品[注1]と同等で、安定した信号伝達が可能です。

新製品は、テスト対象デバイス (DUT[注3]) を高速に信号切替えしながら精度よく計測する、半導体テスターのピンエレクトロニクス[注4]などに適しています。

パッケージは、小型のS-VSON4Tを採用し、当社既存製品のVSON4パッケージ[注5]と比べて、実装面積を約20%削減しています。これにより、半導体テスターなどの小型化に貢献します。

今後も当社は、半導体テスターの高性能化・高速化に対応した製品を提供していきます。

[注1] VSON4パッケージの当社既存製品TLP3414 (定格40V/250mA)、TLP3431 (定格20V/450mA)

[注2] S-VSON4Tパッケージ: 1.45×2.0mm (typ.)

[注3] Device Under Test (DUT)

[注4] ピンエレクトロニクス (PE): DUTへの電源やテスト信号の供給、およびDUTからの出力信号判定を行うインターフェース回路。

[注5] VSON4パッケージ: 1.45×2.45mm (typ.)

応用機器

• 半導体テスター (高速メモリーテスター、高速ロジックテスターなど)

• プローブカード

• 計測機器

新製品の主な特長

• 高速ターンオン時間: tON=150μs (max)

• 低オン抵抗

TLP3414S RON=3Ω (max)

TLP3431S RON=1.2Ω (max)

• 小型S-VSON4Tパッケージ: 1.45×2.0mm (typ.)、t=1.3mm (typ.)

詳しくは、こちらをご覧ください。